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Nanotronics官网截图
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专注半导体与柔性电子制造领域的AI工业质检解决方案平台,搭载自主研发的软硬件集成系统,可自动完成高精度图像异常识别,替代人工显微镜逐帧比对的重复工作。覆盖半导体晶圆缺陷检测、柔性电子产品良率排查两大核心场景。

核心功能

亚微米检测
实现高精度亚微米级缺陷检测,覆盖半导体、印刷等多行业检测需求
多材质适配
支持硬质晶圆、柔性薄膜、精密油墨层等多样样品,可灵活调整检测参数
智能分析
搭载AI算法自动识别缺陷类型,生成标准化检测分析报告
定制化方案
可根据不同行业检测需求,定制专属检测流程与硬件配置
实时监控
支持检测过程实时数据同步,随时查看检测进度与结果
数据留存
自动留存全量检测数据,方便后续回溯与工艺优化
兼容多规格
适配多种尺寸规格的样品检测,无需额外更换工装夹具
远程运维
支持远程设备诊断与参数调试,降低运维成本与时间

使用指南

  1. 1

    接入工厂现有生产设备,完成基础数据采集配置

  2. 2

    上传目标检测样本,训练适配场景的AI检测模型

  3. 3

    设置生产过程控制参数阈值,启动智能监控模式

  4. 4

    系统自动识别生产缺陷并推送预警提示信息

  5. 5

    根据系统生成的分析报告调整生产优化方案

  6. 6

    定期更新训练模型以适配新的生产工艺需求

  7. 7

    对接企业管理系统实现生产数据跨平台同步

优势亮点

  • 检测精度达亚微米级别

  • 单设备检测效率是人工的8倍以上

  • 支持自定义识别模型

  • 操作门槛低易上手

使用须知

定价: 基础款硬件售价约12万元,包含一年的基础模型更新服务;定制款硬件需根据产线需求报价,包含专属模型训练和三年的售后维护;提供7天免费试用,用户可先寄样检测效果再决定是否采购。

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常见问题

支持硬质晶圆、柔性薄膜、精密印刷油墨层等多种材质,还可根据样品调整检测参数

可覆盖半导体晶圆缺陷检测、精密印刷图案瑕疵排查、柔性电子元件质检等场景

支持根据不同行业的检测需求,定制专属检测流程与硬件适配方案

设备会自动留存全量检测数据,支持按需求导出用于后续工艺优化回溯

无需额外更换工装夹具,可直接适配多种尺寸规格的样品检测

支持远程设备诊断与参数调试,也可联系官方获取线下运维支持

深度了解

Nanotronics的AI硬件最早从半导体检测场景切入,解决了传统人工检测效率低、误判率高的行业痛点。在半导体量产环节,晶圆表面的微米级缺陷很容易被忽略,以往工程师需要借助显微镜逐片检查,单张晶圆的检测耗时超过两小时。Nanotronics的硬件设备搭载了自研的AI图像识别模型,上传晶圆图像后就能自动完成缺陷标注,耗时缩短到十几分钟。 不少柔性电子厂商也开始引入这套设备,折叠屏的贴合缝隙、曲面屏的边缘瑕疵很难用常规视觉检测设备捕捉,Nanotronics的硬件可以适配异形样品的扫描需求,识别精度达到亚微米级别。和市面上通用的工业AI检测方案不同,它的模型支持自定义训练,用户可以上传自家产线的样品图像,快速生成专属的识别规则。 很多小型精密五金厂商之前只能依靠人工质检,不仅成本高且良品率难以稳定,Nanotronics的轻量化硬件方案可以适配中小产线的检测需求,不需要额外搭建复杂的检测流水线。设备操作界面简洁,经过半天培训就能上手,不需要专业的AI编程基础。 从市场反馈来看,目前已经有超过30家全球半导体头部企业和柔性电子代工厂在使用这套设备,单台设备的年使用成本比传统检测方案低30%左右。和同类型的海外竞品相比,Nanotronics的本地化服务响应更快,可以根据国内产线的特殊需求调整检测参数。

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